日前,集成电路中心与上海市计量测试技术研究院合作共建的“上海
RFID测试公共服务平台----柔性薄卡分平台”建设项目通过专家组验收,并正式挂牌运营。柔性薄卡(RFID),是一种非接触式的自动识别技术,集成电路中心与计量院在检测柔性薄卡的方法、标准和软硬件环境等方面开展了联合攻关,建立了一套较完整的测试体系,编写了《柔性薄卡(RFID)测试方法》标准草案,确定了60多项测试指标与相应的检测方法,可有效指导柔性薄卡的生产、销售和使用。该平台在建设过程中已为2010年上海世博会提供了柔性薄卡门票的测试服务,确保了7000多万张世博门票的可靠性,出色地完成了世博门票的监理任务。
(集成电路中心)