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集成电路中心举办“RFID测试技术专题研讨会”

发布时间：2013-05-10

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       日前，集成电路中心与上海市RFID工程技术协会共同主办了“RFID测试技术研讨会”。会上，集成电路中心介绍了其建设和管理运行的上海RFID测试公共服务平台的有关情况。作为RFID测试平台的合作单位，世界著名的RFID标签性能测试设备制造企业----芬兰Voyantic公司和中科国技公司的专家代表作了交流发言。Voyantic公司重点介绍了在设计和生产过程中优化标签性能的原理，以及最终标签选择和定案的方法，并带来了国际上UHF 标签和RFID应用方面的最新资讯。 中科国技公司着重介绍了依据RFID产品的生命周期分析每个阶段的产品特点，以及通过三个维度的测试分析RFID产品质量的方法，同时，阐述了当今RFID产品存在的主要问题。     （集成电路中心）